OTA测试通常发生在天线阵列的近场或远场区域,传输的电磁(EM)波的特性根据与发射器的距离而变化。随着信号从天线阵列传播,信号变得更加发达,辐射图中的峰值,旁瓣和零点的幅度朝向远场图案演变。
靠近天线,通常在几个波长或更短的数量级,驻留在反应性近场。远场或夫琅和费距离从2D 2 /λ 开始,其中D是辐射元件的最大直径,λ是波长。一些通信系统,例如近场通信(NFC)或射频识别(RFID),使用近场区域进行通信。但是,必须使用远场假设来评估5G蜂窝通信链路。
诸如辐射功率的测量可以在近场中进行。然而,远场光束图案未在近场中完全形成。使用近场图案的傅里叶变换的一些近场扫描技术可用于预测远场图案。然而,无功近场中的测量不那么准确,因为接收天线可能与发射天线相互作用并降低测量结果。
可以计算典型的5G mmWave设备的远场距离。假设一个15厘米的辐射天线元件(D)工作在28 GHz; 从上面的等式可以看出,它的远场距离为4.2米,路径损耗约为73 dB。
这种距离在设计和测试中引入了新的挑战。在辐射发射机测试中测量射频参数,例如发射功率,发射信号质量和杂散发射。随着远场距离的延长和路径损耗的增加,这种测试更加困难。更糟糕的是,随着辐射元件尺寸(D)变大或频率上升,路径损耗恶化。
随着设计从早期研发到一致性和制造测试的进展,需要不同的仪器设置来测量RF参数。在原型设计阶段,设计人员必须在受控的无线环境中表征芯片组,天线和设备的性能。在将设备推向市场之前,工程师需要对其设计进行表征和评估,以满足3GPP(第三代合作伙伴计划,开发和维护5G标准的小组)规定的最低要求。
在4G中,安全(比吸收率 - SAR),电磁兼容性(EMC)以及最近验证MIMO吞吐量需要辐射测试。大多数其他测试都在有线或传导环境中进行。
现在必须使用OTA方法进行以下测试:
1.RF性能 - 信号质量的最低水平
2.解调 - 数据吞吐量性能
3.RRM - 无线电资源管理 - 初始接入,切换和移动性
4.信令 - 上层信令程序
5.制造测试 - 性能的校准和验证
标准委员会尚未定义许多这些测试。例如,NR用户设备(UE)和基站的RF无线电传输和接收要求以及一致性测试将在3GPP 38系列中规定。
OTA测试对于开发,验证和商业化5G NR设备至关重要。典型的OTA测试将涉及消声室,不同的探测技术和测试设备,以在空间设置中生成和分析辐射信号。消声室提供具有屏蔽外部干扰的非反射环境,因此可以在受控环境中产生和测量已知功率和方向的辐射信号。
迄今为止,3GPP已经定义了三种允许的测试方法:直接远场方法(DFF),间接远场方法(IFF)和近场到远场变换(NFTF)。在DFF方法中,DUT安装在定位器上,该定位器在方位角和仰角上旋转,以便能够在全3D球体上以任何角度测量DUT。腔室的射程长度由前面提到的弗劳恩霍夫远场距离确定。
IFF测试方法基于紧凑的天线测试范围(CATR),并使用抛物面反射器准直探测天线发射的信号,以比DFF方法更短的距离创建远场测试环境。NFTF方法对近区域中的电场的相位和幅度进行采样,并使用傅里叶变换来预测远场图案。
最佳测试方法取决于辐射DUT天线的尺寸和配置。虽然IFF CATR方法可以用于由3GPP识别的三个当前DUT类别,但是具有较大辐射元件的过度路径损耗将DFF方法限制为具有小于5cm的辐射天线元件的DUT。
DFF和IFF方法都可用于RF参数测试,以表征波束图案并验证波束控制。主要区别在于所需的腔室尺寸和相关的路径损耗。CATR方法对DUT尺寸和频率要求最灵活,所涉及的小室可用于实验室环境。
为了了解真实环境中的设备性能,开发人员测试设备的端到端系统性能,同时包括受损信号。这可以使用PROPSIM 5G信道仿真器进行。信道仿真器模拟真实世界的信号损伤,包括路径损耗,多径衰落,延迟扩展和多普勒频移。
为了确保在整个设计周期内进行准确和可重复的测量,3GPP正在研究和批准新的OTA测试方法。到目前为止,3GPP已经批准了直接远场,间接远场和近场到远场变换。随着5G成为主流,OTA测试方法对于从研发到设计验证,从一致性到制造都至关重要。
用于重建由基站或设备仿真器发送/接收的信号的实际信道条件的示例设置