电磁兼容EMC测试瞬态免疫，RF抗扰度和RF发射
EMC测试对于确保产品免受电磁环境中存在的多种瞬态现象和连续射频现象的影响是必要的。瞬态事件可能来自自然原因 - 静电放电（ESD），闪电或人为 - 故障浪涌，开关瞬变。这些涉及在纳秒或微秒范围内的非常短持续时间的事件，其具有可以破坏或破坏电子设备中的电子电路和组件的高振幅。
还必须确保产品不会产生过高的电磁辐射，这会对附近的设备或设备造成损害。排放限制用作标准，以确保符合EMC指令的所有产品符合此要求，然后才能在使用这些标准的国家/地区向公众销售。
瞬态免疫测试
下面列出并说明了一些在电子产品测试中广泛使用的主要瞬态抗扰度测试。它将详细解释用于模拟此类瞬变的现实生活现象的方法和标准。
静电放电（ESD）
如果一个人走过高绝缘材料和低相对湿度，他的体电压可以高达25kV。当他的身体接触到任何电子设备或组件时，此电荷会被释放，并可能导致设备中断或损坏。
电快速瞬变（EFT）
当电路关闭时，流过开关的电流瞬间中断。这导致触点上的气隙破坏，并且电流再次流动，这使电压尖峰坍塌。这种爆裂特性会对附近的设备造成损坏。
雷电浪涌测试
这些是电子设备端口出现的高能量瞬变，由于附近的雷电浪涌或电源干扰（如故障清除或电容器组切换）而产生。
射频抗扰度测试
随着更多电子设备与多种无线电发射器一起存在，射频（RF）频谱变得越来越拥挤。因此，期望根据所定义的标准测试装置的免疫性，以使其与其他产品区分开来。
射频抗扰度测试
环测威提供了符合IEC标准的射频抗扰度测试和方法。
射频发射EMC测试
射频辐射测试是大多数电子和电气产品符合电磁兼容性的基本要求之一。
RF传导和辐射发射测试
RF传导和辐射发射测试标准和方法在此提供。
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